保護(hù)裝置通過采集實(shí)時(shí)遙測(cè)量，結(jié)合保護(hù)設(shè)定值來判斷是否觸發(fā)保護(hù)邏輯，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)配用電線路的保護(hù)作用。因此，測(cè)量的精度直接影響保護(hù)功能的可靠性。

　　裝置測(cè)量精度的優(yōu)化需要先從影響精度的因素說起。

　　硬件方面，整個(gè)過程可簡述為電流通過電流互感器后經(jīng)過電流電壓轉(zhuǎn)換電路轉(zhuǎn)換為電壓。但由于電流為交流，因此得到的電壓為交流電壓。為了便于后續(xù)的MCU采集與處理，其經(jīng)過一個(gè)抬高電壓后變成一個(gè)正弦波形式的直流電壓，最后通過一個(gè)運(yùn)算放大器得到一個(gè)電壓并被MCU的AD采樣引腳采集。到達(dá)MCU的波形足夠精準(zhǔn)是裝置測(cè)量高精度的基礎(chǔ)。但在電路中，干擾是不可避免的，這就直接造成了MCU采樣前的波形偏離實(shí)際波形，裝置測(cè)量精度也因此大大降低。

　　而軟件方面，MUC按照一定的頻率采集電壓，對(duì)采集到的值按照一定的算法得到模擬波形，經(jīng)過運(yùn)算得到結(jié)果。在這個(gè)過程中，算法優(yōu)化如果不到位，就會(huì)造成模擬的波形與MCU采樣的波形存在較大偏差，這也將導(dǎo)致精度的大大降低。

　　對(duì)于裝置測(cè)量精度的優(yōu)化亦可從軟硬件兩方面入手?？偟膩碚f，優(yōu)化硬件方面的目的是使供給MUC采樣的波形更貼近于保護(hù)裝置采樣的實(shí)際波形；優(yōu)化軟件部分的目的則是使經(jīng)過算法模擬得到的波形更貼近于MCU采集到的波形。

　　硬件方面：

　　1、在采樣電路中加入RC濾波器，過濾掉高頻率的諧波，以此來達(dá)到貼近真實(shí)波形的目的。

　　經(jīng)過濾波后得到較為平滑的波形如下圖：

　　2、在滿足采樣量程要求的前提下可以通過增大電流電壓轉(zhuǎn)換電路中的電阻以充分利用MCU的AD采樣的量程，這種方法便于后續(xù)MCU的分辨采樣，使MCU采樣得到的數(shù)據(jù)更貼近于真實(shí)波形數(shù)據(jù)。

　　軟件方面：

　　1、通過程序更改設(shè)置MCU的采樣頻率，在一個(gè)波形周期里得到更多的采樣數(shù)據(jù)，使算法模擬計(jì)算得到的波形更貼近于流經(jīng)AD采樣引腳的波形。

　　2、通過優(yōu)化算法使MCU計(jì)算得到的模擬波形更貼近于流經(jīng)AD采樣引腳的波形，但此種方案難度較大且需與采樣頻率相互協(xié)調(diào)，達(dá)到優(yōu)化的目的。

　　3、在得到最終數(shù)據(jù)前，數(shù)據(jù)采用浮點(diǎn)型參與各種運(yùn)算更貼近于真實(shí)值，從而使其得到的精度更為準(zhǔn)確，此種方法對(duì)于裝置測(cè)量精度的優(yōu)化是有一定效果的，但其效果往往不夠顯著。

　　綜上所述，裝置測(cè)量精度的優(yōu)化與硬件電路和軟件程序都有著密不可分的聯(lián)系。優(yōu)化裝置采樣精度的方法不計(jì)其數(shù)，但萬變不離其宗，究其根本，終歸都是使MCU根據(jù)數(shù)據(jù)模擬的波形更貼近于實(shí)際波形。

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